中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體照明論壇（SSLCHINA）是中國(guó)地區(qū)最具國(guó)際影響力的半導(dǎo)體照明及智能照明行業(yè)年度盛會(huì)，也是業(yè)界最為關(guān)注的論壇之一。第十二屆中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體照明論壇（SSLCHINA 2015）將于2015年11月2-4日在深圳會(huì)展中心舉辦，論壇緊扣時(shí)代發(fā)展脈搏與產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢(shì)，以“互聯(lián)時(shí)代的LED+”為大會(huì)主題，探討產(chǎn)業(yè)發(fā)展大勢(shì)。
科技部副部長(zhǎng)曹健林、國(guó)際照明協(xié)會(huì)主席Yoshi Ohno將分別擔(dān)任本次大會(huì)的中、外方主席。目前開閉幕大會(huì)、技術(shù)分會(huì)等特邀嘉賓正在全球征集中。
據(jù)組委會(huì)最新消息，RTI International工程研究總監(jiān)J. Lynn Davis博士將出席本屆論壇，并在P203“可靠性與熱管理”技術(shù)分會(huì)上發(fā)表“SSL器件加速應(yīng)力測(cè)試案例研究”的精彩報(bào)告。
J.Lynn Davis博士表示，SSL器件是由發(fā)光二極管（LED）、光學(xué)元件、反光片、電子驅(qū)動(dòng)及連接器等多個(gè)元件構(gòu)成的復(fù)雜系統(tǒng)。為此類器件設(shè)計(jì)加速壓力測(cè)試（AST）是試圖在大幅度縮減時(shí)間框架下為照明系統(tǒng)元件創(chuàng)建現(xiàn)實(shí)失效模式的復(fù)雜項(xiàng)目。溫度、濕度及電應(yīng)力等一些環(huán)境壓力因素會(huì)加速老化和降解過程。然而，每項(xiàng)壓力因素對(duì)系統(tǒng)元件所產(chǎn)生的影響都不同，應(yīng)對(duì)此加以了解并得出產(chǎn)品的可靠性和壽命信息。通過對(duì)環(huán)境壓力條件和SSL器件進(jìn)行綜合研究，能夠更深入理解SSL系統(tǒng)加速測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)與局限。
Davis博士在報(bào)告中將討論SSL系統(tǒng)AST實(shí)驗(yàn)方法與結(jié)果，包括失效模式識(shí)別及與現(xiàn)實(shí)經(jīng)驗(yàn)的關(guān)聯(lián)。他將介紹SSL器件強(qiáng)加速應(yīng)力測(cè)試（HAST）的結(jié)果以及該方法中潛在失效模式的啟示和局限。
Davis博士還將介紹其他AST方法，例如高溫運(yùn)行壽命法（HTOL）及濕高溫運(yùn)行壽命法（WHTOL）等。有關(guān)上述測(cè)試方法對(duì)系統(tǒng)元件的影響，將重點(diǎn)關(guān)注LED、透鏡及電子驅(qū)動(dòng)等。
為突出AST的優(yōu)勢(shì)，Davis博士將等同的暖白光和冷白光產(chǎn)品進(jìn)行對(duì)比，其中還包括檢驗(yàn)LED封裝方式（即，中功率與高功率LED）以及其他LED屬性所產(chǎn)生的影響，如相關(guān)色溫（CCT）對(duì)流明維持率和色點(diǎn)穩(wěn)定性的影響。
J.Lynn Davis是RTI International的工程研究總監(jiān)。他所帶領(lǐng)的團(tuán)隊(duì)的研究領(lǐng)域主要涉及照明及空氣過濾等方面的節(jié)能建筑產(chǎn)品，客戶包括美國(guó)能源部、美國(guó)環(huán)境保護(hù)署及各類商業(yè)客戶。Davis博士的團(tuán)隊(duì)曾榮獲多個(gè)重要獎(jiǎng)項(xiàng)，包括《研發(fā)雜志》的“R&D 100”獎(jiǎng)、能源研究所的創(chuàng)新獎(jiǎng)、美國(guó)能源部的研發(fā)成果獎(jiǎng)等。
Davis博士是電氣與電子工程師學(xué)會(huì)（IEEE）的資深會(huì)員，并曾因在納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)制定方面所做的工作而獲得國(guó)際電工技術(shù)委員會(huì)（IEC）的“1906獎(jiǎng)”。他曾發(fā)表50多篇技術(shù)論文，并獲得45項(xiàng)左右的美國(guó)專利授權(quán)，涵蓋節(jié)能與材料技術(shù)的多個(gè)方面。
